材料的高分辨成像和度［光］谱学

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　　F.Ernst, Department of Materials Science and Engineering, Case Western Reserve University, USA
　　M.Ruhle, MPI fur Materialforschung, Germany (Eds.)
　　High-Resolution Imaging and Spectrometry of Materials
　　2003, 440pp.
　　Hardcover EUR 106.95
　　ISBN 3-540-41818-0
　　Springer-Verlag
　　 本书较为系统地介绍了高分辨电子显微镜及其方法和最近的进展，也介绍了这种显微镜在表面和界面分析以及在隐物质研究方面的应用。
　　 全书共10章，含211幅图(其中32幅为彩色图)，并附有参考文献。第1章材料的微特性、微结构和高分辨电子显微镜及其应用的概述；第2章电子散射、Schrdinger方程、散射幅度、Born近似、互动态目标谱、混合动态形状因子、相干函数近似等；第3章利用定量高分辨电子显微术的结构测定、结构复原的策略、应变和图映射、重复数字像匹配等；第4章定量分析透射电子显微术、电子能量损失谱术的基础、表面和颗粒界面研究等；第5章电子光学的进展、像形成的基础、齐明电子透镜的性质、微扰形式论、三重对称系统等；第6章利用原子探针场离子显微术的层析术、实验技术、层析术、材料研究中的原子探针层析术；第7章扫描隧穿显微术和扫描隧穿光谱术、原子力显微术、特殊技术、扫描隧穿显微术与其他技术的组合等；第8章带慢电子的多方法高分辨表面分析、慢电子与凝聚物质的相互作用、电子-光学考虑等；第9章从微特性到宏观性质：金属-陶瓷复合物的讨论途径、表面间的脱散、金属-陶瓷界面等；第10章材料的微结构特性：一种评定。
　　 本书内容较为全面和新颖，是这方面的一部新著，可供高等学校物理系、材料系及相关系科的教师、研究生和高年级学生参阅，更可供从事材料科学研究和应用的科技工作者参考。
　　王亦忠，研究员
　　(中国科学院物理学研究所)
　　Wang Yizhong, Associate Professor
　　(Lnstitute of Physics,the Chinese Academy of Sciences)

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